%0 Conference Article
%T АДАПТАЦИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОСХЕМ К РАЗЛИЧНЫМ ТИПАМ ПРОИЗВОДСТВЕННЫХ ЛИНИЙ
%A Коваль, А.А.
%A Авилова, О.А.
%A Ягодкин, А.С.
%K контроль качества, интегральные микросхемы, автоматическая оптическая инспекция, глубокое обучение, Run-to-Run, производственная линия
%J МОДЕЛИРОВАНИЕ ИНФОРМАЦИОННЫХ СИСТЕМ И ТЕХНОЛОГИЙ – 2026
%D 2026
%P 5
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова