%0 Conference Article
%T ВНЕЗАПНЫЕ И ПАРАМЕТРИЧЕСКИЕ ОТКАЗЫ В МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТАХ: МЕХАНИЗМЫ, КЛАССИФИКАЦИЯ И МЕТОДЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЁЖНОСТИ
%A Скворцова, Е.И.
%A Ягодкин, А.С.
%A Зольников, В.К.
%K внезапные отказы, параметрические отказы, надёжность, деградация параметров, функциональное тестирование, отказоустойчивость
%J МОДЕЛИРОВАНИЕ ИНФОРМАЦИОННЫХ СИСТЕМ И ТЕХНОЛОГИЙ – 2026
%D 2026
%P 7
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова