LDR 00966naa#a2200169#i#450#
001     RU\\bibl\16303
005     20250621101553.6
100 ## _a20250618b2025####ek#y0rusy0150####ca
102 ## _aRU
200 1# _aВЛИЯНИЕ ПРОТОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ДЕГРАДАЦИЮ И СБОИ В РАБОТЕ МИКРОСХЕМ ОПЕРАТИВНОЙ ПАМЯТИ
       _eСтатья/тезисы конференции
210 1# _aВоронеж
       _cВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
       _d2025
215 ## _a3 с.
608 ## _aСтатья/тезисы конференции
       _2local
675 ## _aЭлектронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника. 621.382
       _z
700 #1 _aКотляров
       _gВ. В.
700 #1 _aШевченко
       _gА. В.
856 4# _abibl.vgltu.ru
       _u