00966naa#a2200169#i#4500001001500000005001700015100004100032102000700073200021800080210016900298215001000467608006000477675018100537700003000718700003000748856001800778RU\\bibl\1630320250621100402.6##a20250618b2025####ek#y0rusy0150####ca##aRU1#aВЛИЯНИЕ ПРОТОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ДЕГРАДАЦИЮ И СБОИ В РАБОТЕ МИКРОСХЕМ ОПЕРАТИВНОЙ ПАМЯТИeСтатья/тезисы конференции1#aВоронежcВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозоваd2025##a3 с.##aСтатья/тезисы конференции2local##aЭлектронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника. 621.382#1aКотляровgВ. В.#1aШевченкоgА. В.4#abibl.vgltu.ru