00966naa#a2200169#i#450# RU\\bibl\16303 20250621101740.6 20250618b2025####ek#y0rusy0150####ca RU ВЛИЯНИЕ ПРОТОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ДЕГРАДАЦИЮ И СБОИ В РАБОТЕ МИКРОСХЕМ ОПЕРАТИВНОЙ ПАМЯТИ Статья/тезисы конференции Воронеж Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова 2025 3 с. Статья/тезисы конференции local Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника. 621.382 Котляров В. В. Шевченко А. В. bibl.vgltu.ru