Россия
Россия
В настоящее время можно наблюдать зарождение и развитие нового поколения материалов – «умных» материалов. В данной статье рассмотрены основные виды «умных» материалов, их свойства и применение.
материалы, электроника, эффект
1. Акименко А.В., Аникеев Е.А., Воронин В.В. Методика и алгоритм расчета и подбора насосных агрегатов для хранилищ жидких продуктов // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 1. – С. 7-13. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2022-15-1-7-13; EDN: https://elibrary.ru/NTADTB
2. Методы обеспечения стойкости электронной компонентной базы в части обратимых одиночных событий / А.Е. Козюков, Г.А. Распопов, А.И. Яньков [и др.] // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 1. – С. 27-32. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-1-27-32. EDN: https://elibrary.ru/OSYDDO
3. Сазонова, С.А. Моделирование опасных внутренних усилий при расчете смешанным методом статически неопределимых рам со стержнями заданной жесткости / С.А. Сазонова, В.Ф. Асминин, А.В. Звягинцева // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 2. – С. 44-54. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-2-44-54. EDN: https://elibrary.ru/KNQQBY
4. Сазонова, С.А. Расчет смешанным методом статически неопределимых рам с элементами повышенной жесткости и численная проверка результатов расчетов с помощью метода конечных элементов / С.А. Сазонова, В.Ф. Асминин, А.В. Звягинцева // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 2. – С. 54-66. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-2-54-66. EDN: https://elibrary.ru/RQXXBC
5. Журавлева, И.В. Развитие технологии систем на кристалле для современной электронной компонентной базы / И.В. Журавлева, Е.А. Попова // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 4. – С. 12-20. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-4-12-20. EDN: https://elibrary.ru/SIEOLH
6. Схемотехнические методы обеспечения стойкости ЭКБ к воздействию тяжелых заряженных частиц / В.К. Зольников, Ф.В. Макаренко, И.В. Журавлева [и др.] // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 4. – С. 35-42. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-4-35-42. EDN: https://elibrary.ru/INSSUR
