Россия
В статье был рассмотрена систематическая выборка. Проводился анализ концептуальных основ систематической выборки, её математического обоснования, преимуществ, ограничений и областей практического применения.
Выборка, систематическая
1. Выборочный метод в социально-экономической статистике: учеб. пособие / Э.К. Васильева, М.М. Юзбашев. — М.: Финансы и статистика; ИНФРА-М, 2010. – 256 с.
2. Кыверялг А. А. Методы исследования в профессиональной педагогике / А. А. Кыверялг. – Таллин : Валгус, 1980. – 334 с.
3. Йейтс, Ф. И. Выборочный метод в переписях и обследованиях / Пер. с англ. Е. И. Арона ; Под ред. [и с предисл.] А. Г. Волкова. - Москва : Статистика, 1965. - 434 с.
4. Компьютерное моделирование работоспособности финишных процедур и паразитных элементов в программно-аппаратном комплексе проектирования микросхем / А. С. Ягодкин, Н. Н. Литвинов, П. С. Иванин, А. С. Грошев // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 3. – С. 106-115. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-104-113. – EDN NICLOY.
5. Епифанов, Е. Н. Системный анализ акустических свойств речевых оповещателей / Е. Н. Епифанов, В. Ф. Асминин, С. А. Сазонова // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 4. – С. 42-53. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-4-42-53. – EDN BMZBYL.
6. Ищенко, Е. А. Применение технологий электродинамического моделирования для определения эффективной площади рассеяния малых объектов / Е. А. Ищенко, С. М. Федоров, Д. М. Федоров // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 4. – С. 53-59. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-4-53-59. – EDN PPJTCT.
7. Зольников В.К., Гамзатов Н.Г., Анциферова В.И., Полуэктов А.В., Фиронов В.А. Экспериментальные исследования радиационного воздействия на микросхемы FRAM // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 3. – С. 16-24. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2022-15-3-16-24; EDN: https://elibrary.ru/UOCKEW
8. Схемотехнические методы обеспечения стойкости ЭКБ к воздействию тяжелых заряженных частиц / В.К. Зольников, Ф.В. Макаренко, И.В. Журавлева [и др.] // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 4. – С. 35-42. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-4-35-42. EDN: https://elibrary.ru/INSSUR
9. Котляров, В. В. Методы защиты цифровых устройств на базе ПЛИС от ионизирующего излучения в условиях космического пространства / В. В. Котляров, А. В. Шевченко, В. И. Анциферова // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 4. – С. 59-67. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-4-59-67. – EDN QUDAPD.
