Россия
Россия
Статья посвящена созданию радиационно-стойких библиотек элементов для криптографических микросхем, применяемых в космической аппаратуре. Рассмотрены основные этапы разработки, включая анализ внешней радиационной обстановки, выбор конструктивных решений и внедрение средств автоматизации проектирования. Подчеркивается важность комплексного подхода к повышению стойкости изделий.
библиотеки элементов, радиационная стойкость, криптографические микросхемы, информационная система
1. Чумаков, А. И. Действие космической радиации на интегральные схемы / А. И. Чумаков. – М.: Радио и связь, 2004. – 46 с. EDN: https://elibrary.ru/QNRQVL
2. Colinge, J. P. Hardening Integrated Circuits against Radiation Effects / J. P. Cjlinge // RADECS-97 Short Course. 1997.
3. Weatherford, T. From Carriers to Contacts, a Review of SEE Charge Collection Processes in Devices // IEEE NSREC Short Course Notes. – 2002, pp. IV-1 – IV-53.
4. Полуэктов, А. В. Моделирование ослабления ионизируюшего излучения за счет защитного корпуса микросхем / А. В. Полуэктов, Р. Ю. Медведев, А. И. Заревич // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 2. – С. 93-100. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-2-93-100. – EDN QQRQXE.
5. Повышение формализации задач верификации топологии и электрической схемы для систем автоматизированного проектирования / А. В. Полуэктов, К. В. Зольников, А. В. Ачкасов, Ю. А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 1. – С. 102-111. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-1-102-111. – EDN QIKKRO.
6. Епифанов, Е. Н. Системный анализ акустических свойств речевых оповещателей / Е. Н. Епифанов, В. Ф. Асминин, С. А. Сазонова // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 4. – С. 42-53. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-4-42-53. – EDN BMZBYL.
7. Полуэктов А.В., Макаренко Ф.В., Ягодкин А.С. Использование сторонних библиотек при написании программ для обработки статистических данных // Моделирование систем и процессов. – 2022. – Т. 15, № 2. – С. 33-41. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2022-15-2-33-41; EDN: https://elibrary.ru/HHYURU
