Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье показаны результаты исследования RC фильтра низких частот (LPF) с помощью универсального симулятора электрических цепей. Было проведено моделирование временных и частотных характеристик, определение напряжения на резисторе, силы тока, преобразования Фурье выходного сигнала.

Ключевые слова:
симулятор электрических цепей, фильтр низких частот, моделирование, исследование, характеристики
Список литературы

1. Зольников, В. К. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС и учет электрофизических эффектов глубоко субмикронного уровня / В. К. Зольников, А. Л. Савченко, А. Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 40-47. DOI: https://doi.org/10.12737/article_5d639c80e25143.41546387; EDN: https://elibrary.ru/TNURQR

2. Компьютерное моделирование работоспособности электрической схемы в системах автоматизации проектирования / В. К. Зольников, С. В. Стоянов, Е. В. Шмаков, Н. Н. Литвинов // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 3. – С. 26-36. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-24-34; EDN: https://elibrary.ru/EJJKJP

3. Создание средств проверки электрической схемы с использованием схемы тестовых внешних воздействий / К. В. Зольников, Д. В. Шеховцов, Н. Н. Литвинов, М. А. Солодилов // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 3. – С. 36-44. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-34-42; EDN: https://elibrary.ru/EAGOOO

4. Формализация верификации топологии и электрической схемы для систем автоматизированного проектирования / Т. В. Скворцова, К. В. Зольников, А. М. Плотников, И. В. Скоркин // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 3. – С. 61-70. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-59-68; EDN: https://elibrary.ru/DUYQHJ

5. Создание поведенческой модели LDMOS транзистора на основе искусственной MLP нейросети и ее описание на языке Verilog-A / С. А. Победа, М. И. Черных, Ф. В. Макаренко, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 2. – С. 28-34. – DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-2-28-34. EDN: https://elibrary.ru/XHOXUK

Войти или Создать
* Забыли пароль?