Россия
Россия
С постоянной миниатюризацией топологических норм и ростом степени интеграции современных микроконтроллеров и программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) их уязвимость к воздействию ионизирующего излучения в космическом пространстве становится все более критичной. Особую опасность представляют тяжелые заряженные частицы (ТЗЧ) – высокоэнергетические ионы, способные при единичном попадании в чувствительный объем кристалла вызывать одиночные сбои, приводящие к нарушению функциональности или полному отказу электронных систем космических аппаратов. Цель данной статьи – детально рассмотреть физические механизмы воздействия тяжелых заряженных частиц на полупроводниковые структуры, проанализировать природу одиночных сбоев и современные методы проектирования стойкой электронной компонентной базы. Особое внимание уделяется практическим аспектам применения специализированных систем автоматизированного проектирования (САПР), таких как Synplify Premier, для автоматического внедрения механизмов защиты на уровне комбинационных схем, конечных автоматов и блоков памяти.
тяжелые заряженные частицы (ТЗЧ), одиночные сбои, радиационная стойкость, микроконтроллеры, ПЛИС, чувствительный объем, механизмы защиты, Synplify Premier, троирование, космическая электроника
1. Зольников, К.В. Моделирование воздействия ТЗЧ в активных областях элементов микросхем при проектировании / К.В.Зольников.
2. Зольников К.В. Моделирование радиационных эффектов на физико-технологическом уровне в САПР ИЭТ / К.В.Зольников, В.А.Скляр, А.А.Стоянов, К.И.Таперо, А.И.Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 92-97. EDN: https://elibrary.ru/PXPYGB
3. Зольников, К.В. Модель радиационных эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц в КМОП-элементах микросхем .
4. Зольников, К.В. Проблемы моделирования воздействия космического излучения на элементную базу / К.В.Зольников, В.А.Скляр,
5. Зольников, К.В. Проектирование радиационно-стойких микросхем / К.В.Зольников // Материалы международной конференции «Системные проблемы надежности, качества, компьютерного моделирования, кибернетических, информационых и телекоммуникационных технологий в инновационных проектах». - 2013. -Часть 1. - С.51 - 52. EDN: https://elibrary.ru/ZXDBVV
