Россия
В работе рассмотрены тенденции развития зарубежных микропроцессоров для компьютеров. Отдельное внимание уделено серии высокопроизводительных процессоров Loongson, производимых в Китае. Приведены показатели надежности процессоров и модели для расчетов эксплуатационной интенсивности отказов.
микропроцессор, электронные радио изделия (ЭРИ), микросхемы, надежность, интенсивность отказов
1. ГОСТ 27.002-2015. Надежность в технике. Термины и определения. - М. : Стандартинформ, 2016. - 30 с.
2. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование си-стем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45.
3. Юдина, Н.Ю. Анализ факторов, оказывающих влияние на надежность структурных элементов сложных вычислительных систем / Н.Ю. Юдина, А.Н. Ковалев // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 3. - С. 86-93.
4. Электронная компонентная база космического назначения / В.К. Зольников, А.Ю. Кулай, В.П. Крюков [и др.] // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник научных трудов. - Тамбов, 2018. - С. 215-218.
5. Скляр, В.А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радио-техника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
6. Жаднов, В.В. Модель отказов электронных компонентов для расчета надежности / В.В. Жаднов // Известия высших учебных заведений. Электроника. - 2018. - Т. 23, № 4. - С. 353-361.
7. Расчет показателей стойкости работы цифровых микросхем в САПР / В.К. Зольников, В.В. Лавлинский, Ю.А. Чевычелов [и др.] // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 291-301.
8. Мишанов, Р.О. Выбор электрических параметров интегральных микро-схем специального назначения для проведения индивидуального прогнозирования показателей качества и надежности / Р.О. Мишанов, М.Н. Пиганов, В.П. Перевертов // Надежность и качество сложных систем. - 2018. - № 2 (22). - С. 43-54.
9. Уткин, Д.М. Оценка надежности программно-технических комплексов специального назначения / Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Моделирование си-стем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.78-84.
10. Жаднов, В.В. О «совершенствовании» математической модели расче-та надежности КМОП СБИС с учетом ЭСР / В.В. Жаднов // Технологии электромагнитной совместимости. - 2016. - № 4 (59). - С. 49-52.
11. Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК035 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 42-46.
12. Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК028 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 37-41.
13. Новикова, Т.П. Разработка алгоритма решения задач управления последовательностью испытаний электронной компонентной базы / Т.П. Новикова // Научно-технический вестник Поволжья. - 2018. - № 8. - С. 85-87.
