АНАЛИЗ СУЩЕСТВУЮЩИХ МЕТОДОВ МОДЕЛИРОВАНИЯ ВОЗДЕЙСТВИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА НА ЭЛЕКТРОННУЮ КОМПОНЕНТНУЮ БАЗУ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В работе рассматривается моделирование радиационных эффектов в средствах автоматизации проектирования. Особенно уделяется внимание разработке сложно-функциональных блоков и на их основе микроэлектронных изделий, требующих обеспечения технологической независимости при создании современных систем управления, обработки данных и связи.

Ключевые слова:
микросхема, электронно-компонентная база, радиация, космическое пространство, системы автоматизированного проектирования (САПР)
Текст
Текст произведения (PDF): Читать Скачать
Список литературы

1. Зольников, В.К. Моделирование и анализ производительности алгоритмов балансировки нагрузки облачных вычислений / В.К. Зольников, О.В. Оксюта, Н.Ф. Даюб // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 32-39.

2. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование си-стем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45.

3. Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценки их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 / К.В. Зольников, А.С. Ягодкин, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 46-53.

4. Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867Ц6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников, Д.Н. Чернов, А.С. Ягодкин // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82.

5. Создание тестового окружения и порядок загрузки тестов в процессе проектирования микросхем / К.А. Чубур, А.Ю. Кулай, А.Л. Савченко, К.В. Зольников, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 83-87.

6. Зольников, В.К. Методы верификации сложно функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 16-24.

7. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30.

8. Зольников, В.К. Моделирование работоспособности микросхем на различных иерархических уровнях описания в САПР / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 30-39.

9. Зольников, В.К. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС и учет электрофизических эффектов глубоко субмикронного уровня / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 40-47.

10. Информационные модели радиационных эффектов для оценки адекватности принятия решений / К.В. Зольников, В.М. Антимиров, А.Ю. Кулай, И.И. Струков, М.В. Солодилов, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 15-20.

11. Зольников, К.В. Математическая модель оценки показателей надежности сложных программно-технических комплексов / К.В. Зольников, Д.М. Уткин, Ю.А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 21-26.

12. Создание схемотехнического и конструктивно-технологического базиса микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, Ю.К. Фортинский, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 27-29.

Войти или Создать
* Забыли пароль?