АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
В данной статье рассматриваются технические средства контроля работоспособности ЭКБ специального назначения экспериментальной оценки радиационной стойкости, в условиях отсутствия тестового измерительного оборудования, которое позволяет контролировать области наиболее поверженные деградации при воздействии ионизирующего излучения и тяжелых заряженных частиц космического пространства.
микроконтроллер, сверхбольшая интегральная схема (СБИС), сбоеустойчивость СБИС, ионизирующее излучение, радиационная стойкость
1. Выбор значений параметров, определяющих кинетику накопления заряда в диэлектрике при радиационном воздействии / В. К. Зольников, В. П. Крюков, В. Н. Ачкасов, В. А.Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т.8, № 3. - С. 24-26.
2. Проектирование интерфейсов сбоеустойчивых микросхем / В.К. Зольников, Н.В. Мозговой, С.В. Гречаный, И.Н. Селютин, И.И. Струков // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 17-24.
3. Создание тестового окружения и порядок загрузки тестов в процессе проектирования микросхем / К.А. Чубур, А.Ю. Кулай, А.Л. Савченко, К.В. Зольников, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 83-87.
4. Разработка материалов и радиационно-стойкой ЭКБ на основе КНС/КНИ структур / И.И. Струков, С.В. Гречаный, А.С. Ягодкин, А.Н. Черников // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 2. - С. 72-76.
5. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование си-стем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58.
6. Зольников, В.К. Математическое обеспечение учета импульсного излучения в САПР сквозного проектирования СБИС / В.К. Зольников // Системы управления и информационные технологии. - 2009. - № 1-2 (35). - С. 242-244.
7. Разработка тестового кристалла при проектировании микросхем технологии КМОП / В.К. Зольников, О.В. Оксюта, К.А. Чубур, О.Н. Квасов // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 58-65.
8. Особенности проектирования базовых элементов микросхем космического назначения / В.К. Зольников, Т.В. Скворцова, И.И. Струков, А.А. Илунина, Е.А. Маклакова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 66-70.
9. Зольников, В.К. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС и учет электрофизических эффектов глубоко субмикронного уровня / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 40-47.
10. Модификация метода поиска информации в сети интернет на основе использования методов индуктивного рассуждения / В.В. Лавлинский, А.Л. Савченко, И.А. Земцов, О.Г. Иванова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 61-67.
11. Савченко, А.Л. Анализ существующих моделей и алгоритмов для проектирования сложных функциональных блоков, стойких к воздействию тяжелых заряженных частиц / А.Л. Савченко // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 79-86.
12. Ягодкин, А.С. Математические модели дозовых эффектов электрон-ной компонентной базы космического назначения / А.С. Ягодкин, В.И. Анциферова, Д.И. Владимиров // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 93-101.
