Аннотация и ключевые слова
Аннотация:
Статья посвящена разработке и внедрению автоматизированной системы контроля качества интегральных микросхем на производственных линиях современных электронных производств. Обоснована необходимость перехода от традиционных методов визуального контроля к интеллектуальным системам на основе машинного зрения и нейросетевых алгоритмов. Проведен анализ современного состояния технологий автоматического оптического контроля (AOI), рентгеновской дефектоскопии и электрического тестирования микросхем.

Ключевые слова:
контроль качества, микросхемы, автоматизация, машинное зрение, нейронные сети, сверточная архитектура, Industry 4.0, дефектоскопия, AOI, тестирование интегральных схем
Список литературы

1. ГОСТ Р 55753-2013. Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники. Требования к обеспечению и контролю качества. – Введен 2013-12-27. – Москва : Стандартинформ, 2013. – 64 с.

2. ГОСТ Р 71898-2024. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Межоперационное хранение пластин кристаллов. – Введен 2025-03-01. – Москва : Российский центр сертификации, 2024. – 32 с. DOI: https://doi.org/10.55552/AYUSCRIPT.2024.3105

3. ГОСТ Р 71914-2024. Микросхемы интегральные на общей пластине и приборы полупроводниковые на общей пластине и разделенные на кристаллы. Порядок приемки и поставки. – Введен 2025-03-01. – Москва : Российский центр сертификации, 2024. – 48 с.

4. Рачков М. Ю. Технические средства автоматизации и управления : учебник / М. Ю. Рачков. – Москва, 2023.

5. Самылкина Н. Н. Организация углубленного обучения информатике на основе интегративного подхода / Н. Н. Самылкина. – Москва, 2020.

6. Радиоэлектроника. Проблемы и перспективы развития : сборник трудов X Всероссийской научно-практической конференции с международным участием, посвященной «Дню радио и связи» и 80-летию победы в Великой Отечественной войне ; Тамбовский государственный технический университет. – Тамбов, 2025.

7. Генетические алгоритмы в моделировании поведения робота / А. С. Логвиненко, Л. Ю. Смилянский, А. И. Заревич, Ф. В. Макаренко // Новые аспекты моделирования систем и процессов : материалы Междунар. науч.-практ. конф. / отв. ред. В. К. Зольников, А. И. Заревич. – Воронеж, 2023. – С. 94–103.

8. Structural mechanics in forestry based on digital twin / A. Zarevich, A. Poluektov, Yu. Sumina, Ph. Makarenko // BIO Web of Conferences. – 2024. – Vol. 145. – P. 05005. – DOIhttps://doi.org/10.1051/bioconf/202414505005. – EDN PZLCHH.

Войти или Создать
* Забыли пароль?