ЗАКОНЫ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ДО ОТКАЗА ЭЛЕМЕНТОВ
Авторы:
1.
Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
2.
Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
Россия
Россия
3.
Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
Россия
Россия
Тип:
Статья конференции
Страницы:
с 1356
по 1362
Опубликовано:
30.06.2026
Классификаторы:
УДК 004 Информационные технологии. Компьютерные технологии. Теория вычислительных машин и систем
Язык материала:
русский
Ключевые слова:
время до отказа, функция надежности, экспоненциальное распределение, распределение Вейбулла, логнормальное распределение, интенсивность отказов, MTTF, микроэлектроника, анализ надежности
Аннотация:
Статья посвящена анализу основных законов распределения времени до отказа микроэлектронных компонентов и информационных систем – экспоненциального, Вейбулла, логнормального, нормального и гамма-распределений. Описаны их математические функции (надежности R(t), плотности f(t), интенсивности отказов λ(t)), физический смысл параметров и области применения для ранних, случайных и износовых отказов. Рассмотрены методы оценки параметров (максимального правдоподобия, моментов, наименьших квадратов). Подчеркнута роль выбора адекватной модели для прогнозирования надежности, планирования обслуживания и повышения отказоустойчивости электронных систем.
Статья посвящена анализу основных законов распределения времени до отказа микроэлектронных компонентов и информационных систем – экспоненциального, Вейбулла, логнормального, нормального и гамма-распределений. Описаны их математические функции (надежности R(t), плотности f(t), интенсивности отказов λ(t)), физический смысл параметров и области применения для ранних, случайных и износовых отказов. Рассмотрены методы оценки параметров (максимального правдоподобия, моментов, наименьших квадратов). Подчеркнута роль выбора адекватной модели для прогнозирования надежности, планирования обслуживания и повышения отказоустойчивости электронных систем.
Ключевые слова:
время до отказа, функция надежности, экспоненциальное распределение, распределение Вейбулла, логнормальное распределение, интенсивность отказов, MTTF, микроэлектроника, анализ надежности
время до отказа, функция надежности, экспоненциальное распределение, распределение Вейбулла, логнормальное распределение, интенсивность отказов, MTTF, микроэлектроника, анализ надежности
1. Гуров, С. В. Надежность восстанавливаемых резервированных систем с последействием отказов / С. В. Гуров, Л. В. Уткин // Автоматика и телемеханика. – 2017. – № 1. – С. 137-151. – EDN XVRLFR.
2. Боран-Кешишьян, А. Л. Анализ надёжности технических средств сложных человеко-машинных систем при известных законах распределения времени до отказа элементов / А. Л. Боран-Кешишьян // Вестник Донского государственного технического университета. – 2013. – Т. 13, № 5-6(74). – С. 59-67. – DOIhttps://doi.org/10.12737/1281. – EDN RVLNYD.
3. Королев, А. Е. Оценка надежности машин до первого отказа / А. Е. Королев, Т. Г. Колмакова // Вестник Государственного аграрного университета Северного Зауралья. – 2013. – № 4(23). – С. 64-66. – EDN SDWPAL.
