Россия
В статье представлена методология сквозного проектирования радиационно-стойких микросхем, на основе специализированных PDK и радиационных моделей. Подход обеспечивает учет TID и SEU/SET, согласование технологических и схемотехнических решений и повышение предсказуемости стойкости.
radiation-hardened микросхемы, космическая электроника, Total Ionizing Dose, Single Event Upset, специализированный PDK, радиационные модели, сквозное проектирование, многоуровневая верификация, надежность микроэлектроники, моделирование радиационных эффектов
1. Специализированное программное обеспечение для автоматизированного тестирования и верификации PDK / О. Р. Загидуллина, А. С. Надин, И. Е. Трифанихина, Д. С. Шипицин // Труды научно-исследовательского института системных исследований Российской академии наук. – 2019. – Т. 9, № 4. – С. 80-84. – DOIhttps://doi.org/10.25682/NIISI.2019.4.0011. – EDN TYGPQW.
2. Radiation-Hardened CMOS VLSI SRAM in Bulk Technology / Yu. M. Gerasimov, N. G. Grigoryev, V. V. Goussev [et al.] // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2015. – No. 3. – P. 45. – EDN UMQZVF.
3. Методология сквозного параметрического проектирования узлов машин как основа формирования цифрового документооборота / Н. А. Солодилова, Д. С. Ситкин, А. Ю. Скрябнев, Т. В. Маркова // Автоматизированное проектирование в машиностроении. – 2026. – № 20. – С. 59-63. – DOIhttps://doi.org/10.26160/2309-8864-2026-20-59-63. – EDN CMCGIQ. DOI: https://doi.org/10.3917/sh.ess20.0059
4. Математическая модель индуктивного делителя напряжения с электронной компенсацией / А. И. Заревич, С. В. Муравьев // Известия Томского политехнического университета. – 2010. – Т. 317, № 4. – С. 129–133.
5. Approximation of the absorption spectrum of indium phosphide in the context of simulation of the process of sensation / Ph. V. Makarenko, V. K. Zolnikov, A. I. Zarevich [et al.] // Russian Microelectronics. – 2024. – Vol. 53, № 4. – P. 329–338. – DOIhttps://doi.org/10.1134/S1063739724040041. DOI: https://doi.org/10.1134/S1063739724600481
6. Формирование ИКТ-компетентности студентов специальности «Информатика» / А. В. Полуэктов // Информационно-коммуникационные технологии в педагогическом образовании. – 2009. – № 3 (3). – С. 8–11. – EDN SAXGJX.
7. Автоматизированный комплекс для диагностики импульсов релятивистского СВЧ-генератора / А. И. Заревич, Е. В. Вегнер, И. И. Винтизенко // Приборы и техника эксперимента. – 2004. – № 3. – С. 78–82.
