Россия
Человеческий фактор остаётся основной причиной 74% инцидентов в информационных системах. В статье рассматриваются математические модели влияния человеческого фактора на отказоустойчивость: модель HCR (Human Cognitive Reliability), техники CREAM, FNcurves, а также стохастические модели человеческой ошибки. Анализируются сценарии фишинга, ошибок конфигурации, инсайдерских угроз и усталости операторов. Разработаны вероятностные модели MTBF с учётом человеческого фактора и оптимизационные стратегии повышения надёжности. Полученные результаты демонстрируют снижение числа инцидентов на 42% при внедрении рекомендованных мер.
человеческий фактор, отказоустойчивость, HCR, CREAM, FNcurves, когнитивная надёжность, инсайдерские угрозы
1. Титов М.Ю. Процессы управления в высоконадежных системах специального и двойного назначения // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 3. – С. 87-95.
2. Сумин В.И. Особенности выбора членов экспертной группы для анализа функционирования сложной организационной системы силовых структур // Моделирование систем и процессов. – 2024. – Т. 17, № 4. – С. 77-83. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2024-17-4-77-83
3. Горелик А.В. и др. Экспертная оценка влияния человека на надежность работы систем железнодорожной автоматики // Наука и техника транспорта. – 2018. – № 3. – С. 49-54.
4. Rousand M. Reliability of Safety-Critical Systems: Theory and Applications. – John Wiley & Sons, 2014. – 466 p.
5. O'Connor P., Kleyner A. Practical Reliability Engineering. – John Wiley & Sons, 2012. DOI: https://doi.org/10.1002/9781119961260
6. Логвиненко А.С., Смилянский Л.Ю., Заревич А.И., Макаренко Ф.В. Генетические алгоритмы в моделировании поведения робота // Новые аспекты моделирования систем и процессов : материалы Междунар. науч.-практ. конф. / отв. ред. В.К. Зольников, А.И. Заревич. – Воронеж, 2023. – С. 94-103.
7. Полуэктов А.В., Макаренко Ф.В., Медведев Р.Ю. Компьютерное моделирование работы транзисторов и полупроводниковых приборов на его основе // Моделирование систем и процессов. – 2023. – Т. 16, № 1. – С. 77-84. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2023-16-1-77-84. – EDN LOLZMT.
8. Полуэктов А.В., Шеховцов Д.В., Скоркин И.В., Чубунов П.А. Интеграция программного продукта Calibre в среду Cadence Virtuoso и повышение интеллектуальных свойств САПР при проектировании микросхем // Моделирование систем и процессов. – 2023. – Т. 16, № 4. – С. 71-80. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2023-16-4-71-80. – EDN PBUJZO.
9. Полуэктов А.В., Заревич А.И., Макаренко Ф.В. [и др.]. Преобразования элементов уровней проектирования с учетом радиационного воздействия // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2025. – № 3. – С. 19-28.
10. Полуэктов А.В., Зольников К.В., Анциферова В.И. Моделирование колебательных процессов в пакете MVStudium // Моделирование систем и процессов. – 2021. – Т. 14, № 4. – С. 139-148. – DOIhttps://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-4-139-148. – EDN PPOUDI.
11. Заревич А.И., Муравьев С.В., Бедарева Е.В. [и др.]. Аппаратно-программный комплекс для автоматизированных испытаний сильноточных преобразователей // Известия Томского политехнического университета. – 2013. – Т. 322, № 4. – С. 180-184.
12. Заленская Н.Ю., Макаренко Ф.В., Заревич А.И., Полуэктов А.В. Анализ количества потребления SF₆ и CF₄ для заправки коммутационной аппаратуры высокого напряжения // Известия высших учебных заведений. Проблемы энергетики. – 2024. – Т. 26, № 4. – С. 3-16. – DOIhttps://doi.org/10.30724/1998-9903-2024-26-4-3-16. – EDN HOOMCR.
13. Заревич А.И., Новиков С.С. Локальная устойчивость колебаний магнетрона со связанными резонаторами // Вестник науки Сибири. – 2013. – № 4 (10). – С. 109-114.
14. Полуэктов А.В., Заревич А.И., Макаренко Ф.В., Солодилов М.В. Исследование эффективности защиты от гамма-излучения с использованием многослойного полусферического экрана // Моделирование систем и процессов. – 2025. – Т. 18, № 4. – С. 71-83. DOI: https://doi.org/10.12737/2219-0767-2025-18-4-71-83
